物料型号:SN54ACT8990和SN74ACT8990
器件简介:
- 这些是德州仪器SCOPE®测试性集成电路家族的成员,支持IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)边界扫描,以便于复杂电路板组装的测试。
- 与其它SCOPE®集成电路不同,它们的功能是控制JTAG串行测试总线,而不是成为目标边界扫描设备。
引脚分配:
- 引脚包括地址输入(ADRS4-ADRS0),数据输入输出(DATA15-DATA0),地线(GND),中断(INT),读选通(RD),准备就绪(RDY),测试时钟输入(TCKI)和输出(TCKO),测试数据输入(TDI1-TDI0),测试数据输出(TDO),测试模式选择输出(TMS1-TMS0),测试关闭输入(TOFF),测试重置输入(TRST)和写选通(WR)。
参数特性:
- 工作温度范围:SN54ACT8990为-55°C至125°C,SN74ACT8990为0°C至70°C。
- 供电电压范围:-0.5V至7V。
- 输入电压范围和输出电压范围:-0.5V至Vcc。
- 输入电流和输出电流规格。
功能详解:
- 通过5位地址总线和16位读写数据总线与主机微处理器/微控制器通信。
- 包含控制和状态寄存器,命令寄存器,读缓冲器和写缓冲器。
- 主机可以发出主要命令,以生成TMS序列,将目标从任何稳定的TAP控制器状态移动到任何其他稳定的TAP状态,执行Run-Test/Idle TAP状态下的指令,或通过目标扫描指令或测试数据。
应用信息:
- 主要用于集成电路的测试,特别是在需要IEEE 1149.1 (JTAG)测试访问端口和边界扫描架构的复杂电路板组装测试中。
封装信息:
- 提供44引脚塑料有引线芯片载体(FN)、68引脚陶瓷针栅阵列(GB)和68引脚陶瓷四方扁平封装(HV)。